Пользователь

Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?	Регистрация

Уведомления

• Посмотреть
• Подписаться

Поиск

Поиск

Область поиска Все Авторы Название Резюме Термины Полный текст

Листать

• выпуски
• авторы
• по заглавиям
• по разделам
• другие журналы
• Категории

Подписка Войти в систему, чтобы проверить подписку

Ключевые слова атомно-силовая микроскопия ионная имплантация кремний магнетронное распыление метод Монте-Карло микроструктура модификация поверхности морфология поверхности наночастицы облучение оксид цинка поверхность растровая электронная микроскопия рентгеновская дифракция рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия рентгенофазовый анализ синхротронное излучение структура тонкие пленки фазовый состав численное моделирование

Текущий выпуск

№ 2 (2025)

Информация

• Для читателей
• Авторам
• Для библиотек